JUS standardizacija

4.2 Uputstvo za merenje parametara jediniki.

Ovu temu obrađuju dva dokumenta 49 (Sec) 157 | 49.

(Sec) 157 A. Odlučeno je da:se oba spoje u jedan nov dokumant Sekretarijata što će uraditi Komitet SAD u roku od 4 meseca, U nov dokumenat uneće se dodatne ! informacije o tipičnim tačnostima merenja za pojedine merne tehnike. Neki od navedenih podataka su korigovani na samom zasedariju ali se te korekcije moraju za sada prihvatititi kao privremene do pojave nove verzije dokumenta.

4.3 Automatski metod merenja pomoću mrežnog analizatora. Ovu temu obrađuju dokumenti 49 (USA)73 i 49 (UK) 141. Želja je oba nacionalna komiteta da se pripremi jedinstven dokument po ovom putanju za šta se procenjuje da će biti potreban period od jedne godine. istaknuto je da nema dovoljno uzajamnih informacija ali se za sada procenjuje da su verovatne iačnosti 10— 7 za frekvenciju i nešto manje od 1 % za dinamičke parametre jedinki. Preliminarno je utvrđen sadržaj i format novog dokumenta. Odlučeno je da se u Londonu marta 1986. održi posebno zasedanje jedne grupe gde bi se demonstrirao ovaj metod merenja. Očekuje se da će pored uređaja iz SAD (Hewlet-Packard) i uređaja iz Engleske biti prikazani uređaji iz Nemačke, (WG i RS).

Po pitanju da li nov metod merenja treba da postane jedini IEC metod i zameni Pi-log: prema IEC—444, zaključeno je da Pi-vod treba da ostane u svim oblastima u kojima je njegova primena opravdana, na prvom mestu i zato što se nalazi u širokoj primeni u mnogim zemljama, Oblast viših frekvencija iznad 100—125 MHz mora se pokriti novom metodom. Ukazano je da postoje teškoće i u merenju starenja NF jedinki pomoću Pi-voda, pa je i tu neophodna tačnija metoda.

U SAD, gde Pi-vod nije bio šire prihvaćen, prešlo se sa ;

impedancmetra na metod S-paramotara. Metod opisan u 49 (SAD) 73 već je prihvaćen kao nacionalni standard i publikovan kao EIA Standard 512.

4.4. Uputstvo za ispitivanje i merenje kristalnih jedinki. Inicijativu za izradu ovog uputstva daje dokument

49 (Dubrovnik/Germany) 6. Pošto se ovde radi o kom• i

pletnom programu ispitivanja kristalnih jedinki uočeno je da se to odnosi na pitanja koja se obrađuju u glavi 2 osnovnog dokumenta za kristalne jedinke IEC Publication 122—1 (JUS N.R9.005), pa je odlučeno da se ova aktivnost pretvori u rad na reviziji pomenutog poglavlja. Tom prilikom će se obraditi mnoge nove metode merenja i ispitivanja jedinki, kao što su merenja osetljivosti na ubrzanja, temperaturni histerezis i drugo.

4.5 Pi-metod za merenje osnovne i neželjenih rezonan-

cija do 500 MHz. Nemački komitet je podneo o ovome preliminarni predlog pa je odlučeno da se ova tema uvrsti u nove teme Komiteta. Nemački komitet će podneti zvaničan dokument. Očekuje se da bi ovaj metod bio demonstriran u Londonu na posebnom sastanku rad-, ne grupe. U Nemačkoj je obavljen kružni test morenja neželjenih rezonancija na većem broju uzoraka. Učestvovalo je šest laboratorija. institut se prijavio da, takođe, učestvuje u ovom kružnom ispitivanju. Cilj je da se provere, tačnost i pouzdanost primenjenih metoda me-

renja neželjenih rezonancija (JUS N.R9.020).

5. Međunarodni elektrotehnički rečnik (WG— 8)

Izvršene su ispravke i dopune dokumenta 49 (IEV 561 Secretariat) 1GO, 1207 koji se odnosi na sintetički kvarc.

6. Kućišta (WG— 9)

6.1 Opšta pravila za standardizovanje kućišta. Izvršena je detaljna izmena dokumenta 49 (Sec) 156 i 49 (Sec) 156 A koji se odnose na pravila za standardizovanje kućišta. Ovako pripremljen dokument prema 49 (Dubrovnik/WG 9) 13 pojaviće se kao dokument Centralnog biroa.

6.2 Kućišta za međufrekventne SAW filtre za TV. Utvrđena su dokumenta 49 (Co) 170, 49 (Co) i 49 (Co) 152 i 162 A u kojima je standardizovano 9 različitih tipova kućišta za SAW filtre, za primenu u televizorima.

6.3 Kućišta za oscilatore. Uz manje izmene usvojena su dokumenta 49 (Co) 176 i 49 (Sec) 161i161 A kojima se standardizuje 19 tipova kućišta za oscilatore. Imajući u vidu već veliki broj standardnih tipova kućišta za oscilatore stvoreni su uslovi za izradu prvih JUS tipova u ovoj oblasti.

6.4 Standardizovanje podnožja i poklopaca za Kkristalne jedinke. Dokument 49 (Germany) 102 iz 1983. godine dao je prve podatke o odvojenim standardima za dimenzije za podnožja i poklopce. U ovom dokumentu, ko ji ima karakter probnog dokumenta, budući da je tekuća praksa da se standardizuiu kompletna kućišta, obuhvaćena su samo kućišta nemačkih proizvođača (Schott). · Odlučeno je da se dokument proširi tako da pokrije većinu svetskih proizvođača podnožja i poklopaca. Standard ukazuje i na parove koji se međusobno uklapaju. 6.5 Lemljenje kućišta. Zahtevi u odnosu na kućišta, koja se zatvaraju lemljenjem, su svo manji. IEC neće usklađivati stare tipove ove vrste sa novim pravilima o standardizovanju.

7. PAT (SAW) filtri (WG— 10).

7.1 Opšte informacije, standardne vrednosti i uslovi

Standardizacija 1986./br. 1—2