JUS standardizacija
234
8. EKSPERIMENTALNO ISPITIVANJE OTPORNOSTI PREMA TOPLOTI LEMLJENJA METODOM KUPATILA I LEMILICE
Na po 30 ušičastih priključaka kondenzatora Ispi!tana je otpornost prema toploti lemljenja metodom kupatila i metodom lemilice, (tabela 7-1, kolona 1) i na 80 priključaka kondenzatora, trimera i konektora samo metodom kupatila, (kolone 5,6 ı 7). Postupak za ispitivanje metodom kupatila opisan
je u tački 4.2, a metodom lemilice u tački 4.3. Ispitne temperature navedene su u odgovarajućim kolonama tabele.
Priispitivanju II OG kupatila vreme zadržavanja u kupatilu bilo je 3,5 — 0,5 s. Pri ispitivanju obema metodama Di ačciı su bili ispitivani do rastojanja 3,5 mm od tela sastavnog dela.
Uporednim ispitivanjem metodom kupatila i metodom lemilice dobijeni su približno jednaki rezultati, tJ. približno Jednake promene kapaciteta, (tabela 7-1, kolona 1).
r d22m 4007 sa ga. 7 Zao
• 96%7
JI.
29:999
— /009-
099 90.9 | a | e. 90 O O < O 90 O 00 x O O 70 > 60 S 50 LE 50 | ___——1–-JČL_20 —— — |. ZO fo Xi |M • /| | / e
ZNOJ SV O)
WPT 5)
SI. 5.5.,2-11 — Lemljivost priključaka tranzistora