JUS standardizacija

233

kupatila konstatovano je da su se površine priključaka obe ispitne grupe pokvasile legurom 95%. Metodom kapljice je za ispitnu grupu iz kolone 4 konstatovana verovatnoća od 99% za lemljivost do 2s, a za priključke iz kolone 5 verovatnoća od 85% za lemljivost za isto vreme. Osim toga, metodom kapljice je ispitana lemljivost priključaka i za vreme do 1 s (tabela 5.5.2-2, kolone 4 5).

7. EKSPERIMENTALNO ISPITIVANJE LEMLJIVOSTI METODOM LEMILICE

Na 201 ušičastom priključku kondenzatora, trimera i konektora ispitana Je lemljivost metodom lemi-

ı doz pm (2 32 • 00

47. (4 =

002 aćOn7 orao /0

lice i paralelno na 180 priključaka iste vrste metodom kupatila (tabela 7-1, kolone 1,2,3 ı 4). Kondenzatori i konektori su domaćeg porekla, dok su keramički trimeri ı vazdušni trimeri strane proizvodnje. Postupak za ispitivanje lemljivosti lemilicom opisan je u tački 4.3. Ispitna temperatura navedena je u tabeli 7-1. Metodom lemilice ı metodom kupatila dobijeni su približno jednaki rezultati za lemljivost, izuzev na keramičkim trimerima (kolona 3). Metodom lemilice konstatovana je zadovoljavajuća lemljivost na svim priključcima, dok je metodom kupatila četrnaest zadovoljilo, a šest nije. Ova razlika može se pripisati višoj ispitnoj temperaturi prilikom ispiivanja po metodi lemilice.

/00-

sće slčoeyo

ya 9 Š e 1li II i II O BO /• |U_____ CL 1 JU || o 70 Ć 0. |E: dy == a || i 50 _ NEC E| o 20 | [| |S] GOLO i (Ul ||___M> O || ____ JI Ji Il J| #0 ——— - - a ULJE o {| O1 O2030405 1 2 555 vreme {s)

SI. 5.5.2-10 — Lemljivost priključaka dioda